测试目的：验证被测终端在高低温环境下运行或存储的环境适应能力；技术参数：1)高温存储：70±2℃试验时间：48H（温度稳定后开始计算）；2)低温存储：-40±2℃试验时间：48H（温度稳定后开始计算）；3)温度冲击存储：温度在-40±2℃/60±2℃之间交替，10个循环；