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芯片可靠性测试,HAST高压加速老化测试
27 2020-09

芯片可靠性测试之HAST高压加速老化测试

测试只占芯片各个环节的5%,看似是“最便宜”的,在每家公司都喊着“降低成本”的时候,人力成本不断的攀升,晶圆厂和封装厂都在乙方市场中叱咤风云,似乎只有测试这一环节没有那么难啃,于是“降低成本”的算盘就落在了测试的头上了。
航天电连接器盐雾试验方法

航天电连接器盐雾试验方法

这种交变方式和1试验时间,能提供比连续喷雾96h更接近真实暴露情况的盐雾试验结果,并且有更大的潜在破坏性。因为,在从温润…
动力电池温度冲击试验解析

动力电池温度冲击试验解析

温度冲击试验是为了确定动力电池耐环境温度快速变化的能力,对于新能源汽车而言,虽然实际应用中并不会经常遇到如此快速转换时间…
湿热循环试验箱的传热方法

环境应力筛选之湿热循环试验箱的传热方法

热传导和热对流是两种常用的传热方法,热对流的实例是手持式热风器或干发器。装在散热片上的功率晶体管,则是热传导的一个实例。…
HAST试验箱

PCB电路板的加速老化老化测试条件及模式

HAST是提高环境应力(温度&湿度&压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定…
温度循环试验箱,环境应力筛选试验箱

温度循环试验箱之冷却方法的选择

机械制冷系统通常为单级、组合式或级联式。单级致冷系统是逐步用于工业的基本单级压缩机系统,这些致冷系统通常适用于-30℃。…
温度循环试验箱的种类有哪些?

温度循环试验箱的种类有哪些?

适用于环境应力筛选的温度循环试验箱,可细分为六类:为特殊用途定做的温度循环试验箱,流水作业的传送带式温度循环试验箱,产品…

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