目前，在集成电路ic领域，环境可靠性测试设备主要有高低温试验箱以及HAST试验箱。但为什么HAST试验箱会成为集成电路ic可靠性测试的佳选呢？这由于HAST试验箱结合压力、湿度、湿度条件的高加速试验，在高压条件下加速湿气渗透到外外部保护物料（塑封料或丝印）或沿外保护物料与金属导电层之间界面渗入，本测试用于识别封装内部的失效机制，并且是破坏性的。