舰船通用微电子器件的老化筛选项月，一般都与个或多个故障模代有关。所以其老化筛选的顺序大有讲究，本文推荐的舰船通用微电子器件老化筛选顺序（流程）是：常温初测、低温测试、高温测试、高低温冲击动态老化/高温存储检漏常温终测这里的/是条件或。即如果已做动态老化，高温存储可省：如果由于条件限制做不了动态老化，那么可用高温存储作补偿性筛选。