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芯片可靠性测试之<i style='color:red'>hast高压加速老化测试</i>

芯片可靠性测试之hast高压加速老化测试

测试只占芯片各个环节的5%,看似是“便宜”的,在每家公司都喊着“降低成本”的时候,人力成本不断的攀升,晶圆厂和封装厂都在乙方市场中叱咤风云,似乎只有测试这一环节没有那么难啃,于是“降低成本”的算盘就落在了测试的头上了。

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