本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。满足试验标准：GB-T2423.40-1997、IEC60068-2-66-1994、JESD22-A100、JESD22-A101、JESD22-A102、JESD22-A108、JESD22-A110、JESD22-A118等

2018年初东丽薄膜采购经理卢先生通过互联网搜索“PCT测试箱”找到瑞凯仪器官网，经过与我司技术工程师核对技术参数后发现，东丽薄膜的产品需做温度130℃、湿度85%RH的测试，这需用hast非饱和高压加速老化试验机来完成，并非是PCT测试箱。