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HAST试验箱为何成为
集成电路IC
可靠性测试的佳选?
2020-06-22 08:43
【文章】
目前,在
集成电路IC
领域,环境可靠性测试设备主要有高低温试验箱以及HAST试验箱。但为什么HAST试验箱会成为
集成电路IC
可靠性测试的佳选呢?这由于HAST试验箱结合压力、湿度、湿度条件的高加速试验,在高压条件下加速湿气渗透到外外部保护物料(塑封料或丝印)或沿外保护物料与金属导电层之间界面渗入,本测试用于识别封装内部的失效机制,并且是破坏性的。