目前，在集成电路IC领域，环境可靠性测试设备主要有高低温试验箱以及HAST试验箱。但为什么HAST试验箱会成为集成电路IC可靠性测试的佳选呢？这由于HAST试验箱结合压力、湿度、湿度条件的高加速试验，在高压条件下加速湿气渗透到外外部保护物料（塑封料或丝印）或沿外保护物料与金属导电层之间界面渗入，本测试用于识别封装内部的失效机制，并且是破坏性的。
高低温试验箱可分为高低温运行测试、高低温贮存测试、高低温交变测试、高低温循环测试、温度冲击测试等，虽然可测试的项目较多，可测试集成电路IC在不同温度条件下的使用寿命，但只是单一的温湿度测试不够精确的测试产品在气压下的使用情况。而HAST高压加速老化测试集温度-湿度-压力（非饱和可调）一体，多方面测试集成电路IC，评估产品的失效机制。
高低温试验箱的产品优势：
1、极限测试温度可达300℃，低温-200℃，电耗低；
2、低温长期1000小时以上不结霜；
3、可编程控制，可通过互联网、WIFI、手机APP等监控设备运行情况。
HAST试验箱的产品优势：
1、湿度可调式温度-湿度-压力一体试验设备，测试稳定性高；
2、可配置多个测试端口供给用户产品带电测试；
3、设备升温时自动预排空气洁净度，确保箱内纯净度；
4、箱体采用耐高压设计技术，确保设备、操作人员安全。
