高加速寿命试验(HAST)：通过系统的对产品施加环境应力和工作应力，激发产品设计中的薄弱环节，发现产品应力极限、改进设计、提升产品可靠性。

高加速应力试验(HAST)是指，通过使用高于正常工作应力，对器件实施相应试验，确定器件薄弱环节及极限参数。主要分为高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)，其特点是通过人为的对器件施加各种远超过器件设计规范规定的敏感应力组合，快速地将器件内部缺陷或薄弱环节激发出来，从而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。

高加速寿命试验(HALT：HighlyAcceleratedLifeTest)技术是目前国际上比较流行的可靠性试验技术，它的优点是根据被测产品的自身特点及产品的使用环境，由研发人员设定出适合该产品的试验参数，从而提高了试验效率。HALT试验尤其适用于使用PCB板的电子产品。

饱和蒸汽温度密度压力对照表对于电子产品、LED产品封装、芯片等工业制造品环境测试有着重要的意义，特别是用于产品温度湿度压力的测试中。比如：产品做HAST高加速寿命试验、PCT高压加速老化试验等是必备的对照表。

HALT（HighlyAcceleratedLifeTest）的全称是高加速寿命试验，是一种试验方法（思想），采用的环境应力比加速试验更加严酷。主要应用于产品开发阶段，它能以较短的时间促使产品的设计和工艺缺陷暴露出来，从而为我们做设计改进，提升产品可靠性提供依据。