高加速应力试验(HAST)是指，通过使用高于正常工作应力，对器件实施相应试验，确定器件薄弱环节及极限参数。主要分为高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)，其特点是通过人为的对器件施加各种远超过器件设计规范规定的敏感应力组合，快速地将器件内部缺陷或薄弱环节激发出来，从而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。
高加速寿命试验(HALT)属于破坏性试验，主要使用在器件的设计环节，通过逐步升高器件的试验应力，确定器件的工作裕度值，从而得出器件对环境的耐受能力，改进设计。同时通过对器件实施一系列的高加速寿命试验(HALT)，还可以确定器件在环境应力作用下的各应力极限值，为后续的高加速应力筛选(HASS)剖面参数的设计提供依据，得到高效的筛选剖面。HALT试验的实施，一方面提高了器件的可靠性，另一方面也降低了器件的设计周期和维护成本。
高加速应力筛选(HASS)是以传统的ESS为根本发展起来的一种工艺方法，如表1所示，其目的在于，在不过度损伤器件有效寿命的基础上，选用高水平的筛选应力组合，高效的发现并剔除缺陷器件，提高器件在实际应用中的可靠性。
表1 高加速应力筛选与传统ESS的比较
国外进口的工业级电子器件，一般采用的是常规的筛选方法，当这种经过常规筛选的电子器件用于严苛的航天任务时，器件中未筛选出来的有缺陷的产品将发生失效，导致器件使用可靠性低，因此有必要针对电子器件进行高加速应力筛选技术的研究，通过更高的筛选应力将器件中有缺陷的产品尽可能多的筛选出来。
