品牌：RIUKAI/瑞凯     内箱容积（可选）：100L/150L/225L/408L/800L/1000L;温度范围（可选）：低温：0℃、-20℃、-40℃、-55℃、-60℃、-70℃；高温：+150℃、+100℃、+80℃温变范围（可选）：3℃/min、5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min（有线性及非线性可选）测试标准：满足GB/T2423.22（IEC60068-2-14）；ISO16750；IPC-TM-650；GB/T14710；GB/T10485；JESD22等系列标准中的温度循环试验。适用范围：适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件在温度快速转变的情况下检验产品的各项性能指标。

品牌：RIUKAI/瑞凯内箱容积（可选）：100L/150L/225L/408L/800L/1000L;温度范围（可选）：低温：0℃、-20℃、-40℃、-55℃、-60℃、-70℃；高温：+150℃、+100℃、+80℃温变范围（可选）：3℃/min、5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min（有线性及非线性可选）测试标准：满足GB/T2423.22（IEC60068-2-14）；ISO16750；IPC-TM-650；GB/T14710；GB/T10485；JESD22等系列标准中的温度循环试验。适用范围：适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件在温度快速转变的情况下检验产品的各项性能指标。

TCT温度循环测试箱标准机型有：100L、150L、225L、408L、800L、1000L的内箱尺寸；备注：50L~100L及1000L以上是非标定制产品，具体规格参数以方案书为准。低温可选：-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃和常温；高温可选：+150℃、+180℃、+200℃；湿度范围有：20%~98%RH（非标可选：5%~~98%RH、10%~98%RH）TCT温度循环测试箱适合电子元器件，半导体IC、芯片、光伏组件，电器，食品，车辆，金属，化学，建材等工厂，科研单位，院校之用。

品牌：RIUKAI/瑞凯仪器产地：广东·东莞内箱尺寸（可选）：100L/150L/225L/408L/800L/1000L（按用户需求定制）温度范围（可选）：低温-70℃、-60℃、-40℃、-20℃、0℃、常温；高温+150℃、+100℃、+80℃湿度范围（可选）：5%R.H～98%R.H、10%R.H～98%R.H或20%R.H～98%R.H适用于电子元器件、橡胶、塑料、高分子材料、电器、食品、车辆、金属、化学、建材等。

品牌：Riukai/瑞凯内箱容积（可选）：200L/290L/500L/600L/720L/1000L（可非标定制）；温度范围（可选）：低温0℃、-20℃、-40℃、-55℃、-60℃、-70℃；高温：+500℃、+300℃、+200℃温变速率（可选）：3℃/min、5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min；升温时间：3～4℃/min适用范围：电子元器件、高分子材料、汽车零部件、光伏太阳能、LED灯、军工电子产品等各种产品材料。

针对精密电子元器件的静电防护需求，高低温试验箱内部绝对需要做特殊的防静电处理与接地设计。在交变湿热、高低温循环等严苛测试中，电子元器件（尤其是芯片、PCBA板）极易因静电放电（ESD）产生“隐形杀手”般的损伤，导致产品出现信号中断、性能漂移甚至直接报废。因此，一台合格的精密环境试验箱，必须从内到外构......

在半导体芯片、精密传感器等高端电子元器件的可靠性测试中，快速温变试验箱的温场均匀度“黄金测试底线”为≤±0.5℃。对于部分14m及以下先进制程芯片或极端精密的MEMS传感器，这一指标甚至需要严苛至±0.3℃。温场均匀度直接决定了测试环境的一致性，若偏差过大，将导致样品承受不均的热应力，引发测试数据失真甚至......

在选购高压加速老化试验箱（HAST/PCT）时，内箱尺寸与结构的选择直接关系到测试的有效性、样品的安全以及设备的长期维护成本。对于半导体芯片和PCB板这类高精密电子元器件，确定合适的规格需要遵循以下核心原则：内箱尺寸的确定原则：预留安全间距内箱尺寸并非越大越好，也不是刚好装下就行，必须为高温高压蒸汽的均......

恒温恒湿试验箱的主零配件是制冷机组、冷疑器、蒸发器、控制器这种，主零配件具备关键的作用，因而大家都格外的重视它的主零配件原料，然，这时候却很多顾客都忽略了它的辅助零配件，或者是感觉辅助零配件作用不值一提。也很少人要历数具体有哪些零配件，因而就更不清楚具体这类电子元器件在恒温恒湿试验箱中重要的作......

温度循环试验箱适用于航天航空、电子电工行业及科研单位等部门，对电子产品，在高温或低温环境下，能同时与振动台配会，进行综合环境可靠性试验，并且还可以以大变温速率对电子元器件，零部件进行环境应力筛选试验。