TCT温度循环测试箱（Temperature Cycling Test）-中国试验设备制造商

TCT温度循环测试箱

TCT温度循环测试箱标准机型有：100L、150L、225L、408L、800L、1000L的内箱尺寸；

备注：50L~100L及1000L以上是非标定制产品，具体规格参数以方案书为准。

低温可选：-80℃、-70℃、-60℃、-40℃、-20 ℃、0℃和常温；

高温可选：+150℃、+180℃、+200℃；

湿度范围有：20%~98%RH（非标可选：5%~~98%RH、10%~98%RH）

TCT温度循环测试箱适合电子元器件，半导体IC、芯片、光伏组件，电器，食品，车辆，金属，化学，建材等工厂，科研单位，院校之用。

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产品 · 详情product details

设备用途Equipment use

TCT温度循环测试箱（Temperature Cycling Test）是利用高温低温循环变化测试来评估电子元器件、半导体、IC芯片等产品对温度变化的抵抗能力。主要是利用高温低温循环变化，来测试电子元器件、半导体、IC芯片等产品上各层不同物质之热膨胀俘数不同，而可能引起之故障机制。在此测试中因所用之温度介质为气相，故一般亦称为air to air测试。

满足GB/T2423.1(IEC60068-2-1)；GB/T2423.2(IEC60068-2-2)；
ISO16750；GB/T14710；GB/T13543；
JESD22等系列标准中的温度试验。