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可按需定制
温度范围：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可选
压力范围：A(压力表+0.2～2.0kg/cm)；B(压力表+0.2～3.0kg/cm)；C(压力表+0.2～3.5kg/cm)
湿度范围：65%～100%R.H(可调)
湿度波动度：非饱和控制：±2.5%R.H 、湿润饱和控制：100%R.H
HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度（65%～100%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。
HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度（65%～100%RH可调）、温度、压力等条件下，检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。
一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等，若待测品是半导体，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
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标准设计更安全
内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；
多重保护功能
各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；
稳定性更高
控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式，确保测试稳定性；
湿度自由选择
饱和（100%R.H湿度）与非饱和（75%R.H湿度）自由设定；
智能化高
支持电脑连接，
利用USB数据、
曲线导出保存
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