温度范围:105°C~155°C
控制精度:±0.5°C
湿度范围:65%RH~100%RH
压力范围:+0.2~3.5kg
使用时间:可持续使用1000小时+
本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、光伏组件等行业加速老化寿命试验。
HAST非饱和高压加速老化试验机是在非饱和湿度(65%~100%RH可调)、温度、压力等条件下,检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备,采用加速应力进行试件的寿命试验,从而缩短了试验时间,提高了试验效率,降低了试验成本,其研究使高可靠长寿命产品的可靠性评定成为可能。本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
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标准设计更安全
内胆采用圆弧设计防止结露滴水,符合国家安全容器规范;
多重保护功能
三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等
稳定性更高
压力值采实际感应侦测,确保温度、湿度及压力值准确度;
湿度自由选择
湿度自由选择饱和(100%R.H湿度)与非饱和(75%R.H湿度)自由设定;
智能化高
支持电脑连接,
利用USB数据、
曲线导出保存
模式新升级:
出色的温湿度精密控制逻辑,防止待测品潮湿与结露的模式选择。
压力数据真实呈现:
压力值采实际感应侦测,确保温度、湿度及压力值准确度。
全方位安全保护系统:
三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等...,完善的保护装置,保障实验室与操作人员安全。
完善的扩充选择:
可选购多个BIAS电压端子:符合JESD22-A110之实验规范要求,模拟待测品在高温、高湿环境下,加载工作电压,检测内部封装模块材料接合与保护层的渗透,并且观察是否造成迁移。
GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)
JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命
JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
JESD22-A108 温度,偏置电压,以及工作寿命(IC寿命试验)
JESD22-A110 高加速温湿度应力试验(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
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