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内箱容积（圆桶）：￠300×D450、￠400×D550
温度范围：+110～+132℃、+110℃～+147℃
压力范围：压力表+0.2～2.0kg/cm²、压力表+0.2～3.0kg/cm²、压力表+0.3～3.5kg/cm²
湿度范围：65%～100%R.H(可调)
适用范围：本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
HAST非饱和高压加速老化试验箱是使用在加压和温度受控的环境中施加过热蒸汽的非冷凝（不饱和方法），将外部保护材料、密封剂或外部材料和导体之间通过加速水分渗透的作用进行试验；一般是在设定的温度和湿度条件下连续施加压力来完成的。
本设备广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
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标准设计更安全
内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；
多重保护功能
各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；
稳定性更高
控制模式分为干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式，确保测试稳定性；
湿度自由选择
饱和（100%R.H湿度）与非饱和（75%R.H湿度）自由设定；
智能化高
支持电脑连接，
利用USB数据、
曲线导出保存
| HAST(非饱和)高压加速老化试验箱 | |||
| 技术规格 | RK-HAST-350 | RK-HAST-450 | |
| W×H×D (mm) | 内 | ￠300×D450 | ￠400×D450 |
| 外 | 650×1200×940 | 750×1300×1070 | |
| 温度范围 | A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可选 | ||
| 压力范围 | A(压力表+0.2～2.0kg/cm);B(压力表+0.2～3.0kg/cm);C(压力表+0.2～3.5kg/cm) | ||
| 湿度范围 | 65%～100%R.H(可调) | ||
| 温湿度波动度 | 非饱和控制：±0.5℃/±2.5%R.H，湿润饱和控制：±0.5℃/100%R.H | ||
| 温湿度均匀度 | ±0.5℃/±5%R.H | ||
| 分辨率 | 温度：0.1℃，湿度：0.1%R.H，压力：0.1kg/cm² | ||
| 偏压端子 | 标配8条(8～55条可选) | ||
| 加压时间 | 约45min | ||
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