1、范围

高度加速的温度和湿度的试验是为评价非可靠性，密封包装的固体在潮湿的环境状态装置的用途。它采用外部防护材料（密封材料或盖章）或沿外部之间的防护材料以及所通过它通过金属导体接口。激活的应力通常作为“85℃/85%RH”稳态湿度寿命试验（JEDEC标准第22号- A101）相同的失效机理。

2、仪器

测试需要一个压力室保持特定的温度和相对湿度持续能力，同时提供被测电气连接的设备在指定的偏置配置—— HAST高压加速老化试验箱
2.1控制条件
必须能够提供在斜坡上升的压力，温度和相对湿度控制的条件下，和斜坡下降从指定的测试条件。校准记录应确认该设备避免冷凝设备上测试下（被测件）在炎热的斜坡上升和斜坡下降的热负荷量和（零DUT的功耗）的条件比50℃。校准记录应核实，对于稳定状态的条件和热负荷大，测试条件下，在3.1内指定的公差维持。
2.2温度分布
对每个测试周期永久记录的温度曲线，建议，使压力的有效性可以验证。
2.3设备压力下
HAST高压加速老化试验箱必须物理位置，以尽量减少温度梯度。压力之下装置应设在不低于3厘米的内部腔表面，绝不能受到直接从加热器辐射热。对哪些设备安装应着眼于尽量减少与蒸汽循环干扰议会。
2.4限度地减少污染释放
必须小心的木板和插座材料的选择，尽量减少污染排放和减少退化，由于腐蚀和其他机制。
2.5离子污染
离子污染测试仪器（卡笼，测试板，插座，电线储藏容器等），应加以控制，避免测试工件。
2.6去离子水
去离子与的1兆欧电阻在室温下厘米的水不得使用。

3、测试条件

测试条件包括温度，相对湿度，并与电力偏见配置特定于设备结合在一起的时间。
3.1温度，相对湿度和期限
注1：公差适用于整个可用试验区。
注2：仅供参考.
注3：测试条件适用于任何临时外读数不断。
注4：临时读数，设备应退还强调在4.5内指定的时间。
注5：对于部件达到24小时或更短时间内吸收均衡，加速寿命试验测试至少相当于1000小时85℃/85%RH相对湿度。对于部分需要超过24小时，达到指定的加速寿命试验条件的平衡，时间应延长，使部分达到平衡。
注6：注意：对于塑料封装的微电路，它是已知的有效水分减少玻璃成型复合转变温度。上述有效玻璃化转变温度应力温度可能导致失败的机制无关的标准85℃/85%RH相对湿度压力。
3.2偏置指南
申请偏见根据以下原则：
1）尽 量减少功率损耗。
2）尽可能管脚偏见。
3） 发布到金属片上的差异尽可能。
4）工作范围 内限度地提高电压。
注意： .上述指南优先取决于机制和具体设备的特性。
5）  以下两种类型的偏见可以用来满足这些准则，更严重者为准：
1）  连续偏差-直流偏置应适用继续。连续偏见比骑车更严重偏差时，模具温度=*10℃， 比室环境温度较高或，如果芯片温度不知道当DUT的热量低于200 mW的。如果DUT的散热超过200毫瓦，那么模具温度应计算。如果芯片温度超过超过5℃的环境温度则室以上室周围的模具温度升高，应在测试结果的报告，因为失败的机制，加速包括将受到影响。
2）  循环的偏见-直流电压适用于被测试的设备应定期与适当的频率和占空比中断。如果在上述会议厅周围，△Tja 。超过10℃，然后循环偏见，当一个特定的设备类型温度。上升偏置优化配置的结果，将会更重于连续偏见。由于功耗的结果往往会推动加热水分远离死亡，从而阻碍水分有关的失效机理。循环偏差允许在关闭期间的水分收集装置的功耗时不会发生的死亡。骑自行车用50%的占空比DUT的偏见，是适合大多数塑料封装的微电路。在循环应力期应="2小时在软件包”= 2毫米厚的=“30分钟包"2毫米的厚度。模具的温度，在已知的热阻抗和散热计算，应当引述的结果时，它超过5℃或以上的室环境。
3.2.1选择和报告
选择连续或周期性的偏见，以及是否报告的数额，其中片温度超出室环境温度的标准，总结如下表：
炎热干燥的环境或条件，在设备上和电气装置冷凝结果应避免，特别是在斜坡上升和斜坡下降。
4.1斜升
到达的时间不得少于3小时稳定的温度和相对湿度的条件。
应避免冷凝，确保试验室（干球）温度超过在任何时候，湿球温度，而利率上升的坡道，不得高于速度可以确保任何DUT的温度不落后下面的湿球温度。
在干和湿球温度，应保持这样的相对湿度不低于50%显着加热后开始点。在干燥室，会议厅周围本来可以比这少雨。
4.2缓降
在部分的斜坡向下一个轻微的正面表压（约104℃折射率湿球温度）应足够长，以避免由于测试工件快速减压，但不得超过3小时。
在坡道的第二部分从104℃折射率湿球温度降低到室温，应会出现室通风。没有时间限制，并迫使该船的冷却是允许的。
冷凝设备上应避免在坡道的两个部分，确保了试验室（干球）温度超过在任何时候，湿球温度。
缓降应保持成型封装模具的复合水分。因此，相对湿度不得低于50%时的斜下的部分， 第1段。
4.3测试时钟
测试时钟启动时的温度和相对湿度达到设定点，在坡道开始下降停止。
4.4偏差
偏差在斜坡上升和斜坡下降的应用是可选的。偏差应核实后加载装置，之前的测试时钟开始。偏置还应当验证测试后时钟停止，但在设备移离会议厅。
注意我们建议限流电阻（s）， 在HAST高压加速老化试验箱放在试验板，以防止破坏或DUT的短期发展情况在测试过程中。
4.5读出
电气试验应执行后，没有坡道尽头式后超过48小时。注：中间读数，设备，应退还内96小时的坡道尽头的压力了。水分的损失后，从设备，从他们的去除率可减少放置在密封防潮袋中的设备（不干燥剂）。当设备放置在密封袋的“测试窗口钟”运行在1 /暴露环境的实验室设备率3。因此，测试窗口可以扩展到多达144小时，时间回到应力封闭装置中的水分防袋多达288小时。
4.6处理
适合手应包括用于处理设备，电路板及固定装置。污染控制是很重要的任何高度，加速水分的压力测试。

5、失效准则

一个设备将被视为失败的高加速的温度和湿度的测试参数限制，如果超过，或功能不能在名义和坏在适用的采购文件或数据表中指定条件的证明。

6、安全

按照设备制造商—— 瑞凯仪器的建议和当地的安全规则。