HASS常用应力类型及筛选机理

HASS作为一种剔除早期缺陷器件的工艺手段，常用的筛...

18um铜线产品可靠性测试

待完成芯片的封装以后，需要对产品进行可靠性方面的测试...

HAST与HALT、HASS之间的关系与区别

高加速应力试验(HAST)是指，通过使用高于正常工作...

IGBT器件基本失效模式及机理

目前，国内外对于IGBT器件失效的研究众多，主要从两...

LED晶片HAST加速寿命测试的介绍

因为目前的测试方式都不足以代表完整LED芯片的使用寿...

环境应力筛选（ESS）理论讲解

对研制和批生产质量合格的全部产品零件、组件及整机，在...

可靠性试验的目的是什么？

①发现缺陷，即发现产品在设计元器件、零部件、原材料和...

产品可靠性试验的一般流程

可靠性试验就是再现产品各环节规定功能实现能力的过程，...

锂离子电池高温使用试验

考虑我国用户的实际使用习惯(车载充电和置于车内)，结...

锂离子电池高温试验方法

目前，考核锂离子电池的安全性的标准主要有国际标准（如...