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烧结钕铁硼,失重试验,PCT试验,HAST试验

烧结钕铁硼的失重试验之PCT与HAST的区别

失重试验是用来测试钕铁硼基体的耐腐蚀能力的,试样是无...
LCD显示器高温工作试验报告

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将检验合格的试验样品放入温度为40℃的恒温恒湿试验箱...
环境应力筛选试验的参数确定

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温度循环试验和随机振动应力试验各自激发的缺陷类型是不...
按有关标准进行ESS时常遇到的问题

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GJB1032第1节明确,本标准适用于地面固定设备、...
HASS常用应力类型及筛选机理

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HASS作为一种剔除早期缺陷器件的工艺手段,常用的筛...
18um铜线产品可靠性测试

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待完成芯片的封装以后,需要对产品进行可靠性方面的测试...
HAST与HALT、HASS之间的关系与区别

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高加速应力试验(HAST)是指,通过使用高于正常工作...
IGBT器件基本失效模式及机理

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目前,国内外对于IGBT器件失效的研究众多,主要从两...
LED晶片

LED晶片HAST加速寿命测试的介绍

因为目前的测试方式都不足以代表完整LED芯片的使用寿...
环境应力筛选(ESS)

环境应力筛选(ESS)理论讲解

对研制和批生产质量合格的全部产品零件、组件及整机,在...
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