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芯片(IC)可靠性测试好帮手——瑞凯仪器HAST试验箱系列
2021-08-04 09:24
【文章】
芯片是电子信息产品重要的元器件,是高端制造业的是核心基石!几乎每种
电子设备
,电脑、手机、家电、汽车、高铁、电网、医疗仪器、机器人、工业控制等都使用芯片。瑞凯HAST试验箱主要应用于芯片、半导体器件、金属材料领域,通过爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
电子设备
热循环加速可靠性试验策划
2021-07-14 08:39:08
【文章】
加速可靠性试验是使用相同的损伤机理,比产品使用所需更短的时间去激发失效或累积损伤。加速方法主要包括增加寿命控制变量的量级和增加频次两类。关键要理解加速试验和被加速的实际使用环境之间的关系,基于适合的损伤、失效机理和服务环境来选择试验类型和试验条件。
电子设备
热循环失效机理
2021-07-14 08:32:13
【文章】
热循环导致焊点合金内部产生热应力-应变循环,同时引发焊点金属学组织的演化(晶粒组织变粗糙)。力学和金属学因素的共同作用,导致宏观表象为焊点裂纹的萌生与扩展,引起电信号传输失真的失效现象。随着疲劳损伤累积,焊点的疲劳寿命消耗大约25%到50%之后,在晶粒交界处形成微孔洞,这些微孔洞增长形成微裂纹,进一步增长并聚集成大裂纹。
电子元器件老炼筛选方法
2021-05-20 08:29:36
【文章】
元器件是
电子设备
和系统的基本单元,为提高系统的可靠性,必须保证元器件的可靠性,元器件失效率随时间变化的过程可以用“浴盘曲线”(图1)描述,早期的失效率随时间的增加而迅速下降,使用寿命期内失效率基本不变,老炼筛选过程就是通过对元器件进行100%的非破坏性筛选试验,剔除具有潜在缺陷的早期失效产品,使其尽快度过浴盆曲线的早期失效阶段,将失效率降低到可接受水平,同时剔除失效的元器件。
5G蓄势待发,瑞凯仪器HAST试验箱助力电子器件行业提升品质
2021-05-04 09:20:01
【文章】
在
电子设备
轻薄化、微型化、可折迭化的趋势下,电子器件的需求日益旺盛,其测试要求、品质要求也在不断的提高,在5G来临的时代,瑞凯仪器也顺势推出HAST试验箱。
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