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微电子器件常用的
低气压试验标准
2020-10-31 08:15
【文章】
通常,微电子器件产品使用如下几个
低气压试验标准
: 1)CJB150.2A-2009《军用装备实验室环境试验方法第二部分低气压(高度)试验》;2)GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法方法105低气压试验》(等效美军标MIL-STD-202F);3)GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序方法1001低气压(高空作业)》(等效美军标MIL-STD-883D);
【干货】
低气压试验标准
资料大全
2019-07-10 09:02
【文章】
确定元件和材料在低气压下耐电击穿的能力;确定密封元件耐受气压差不破坏的能力;检验低气压对元件工作特性的影响及低气压下的其他效应;有时候可用于确定机电元件的耐久性。