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18um铜线产品
可靠性测试
2020-11-11 08:35
【文章】
待完成芯片的封装以后,需要对产品进行可靠性方面的测试,以保证在长期使用中的可靠性。可靠性实验在封装中由Precon和LongtermTest两部分组成。