试验使用的设备是能够控制规定温度和湿度的试验箱。可以采用下列两种能满足试验条件的专用试验箱：一种是能保持70℃温度且相对湿度低于20%的恒温恒湿试验箱，另一种是能保持-55℃温度的高低温试验箱。亦可采用一种能调节为上述两种温度的通用高低温交变湿热试验箱，但该试验箱温度为70℃时相对湿度应低于20%。

电工电子产品环境可靠性测试包括：低温工作试验、高温工作试验、低温贮存试验、高温贮存试验、恒定湿热试验、交变湿热试验、温度循环试验、振动试验、冲击试验、自由跌落试验、低气压试验、防尘试验、淋雨试验等。

高温贮存试验通常用于确定贮存条件下时间和温度对热故障机制的影响，以及固态电子设备（包括非易失性存储设备）的时间-故障分布（数据保留故障重建机制）。在试验过程中，在不施加电气条件的情况下，使用加速应力温度，根据时间、温度和包装（如有），利用阿伦尼乌斯加速方程建立了热失效机理模型。

元器件可靠性试验是由一系列通用的基本试验单元——可靠性基础试验组成，把组成各种可靠性试验的基本的试验叫做可靠性基础试验。可靠性基础试验如高温贮存试验、振动试验和盐雾试验等，它们都是独立的试验，不同的组合可构成不同的可靠性试验。因此，可靠性基础试验的结果将直接影响元器件可靠性试验的结果。所以，这些通用的可靠性基础试验是做好元器件可靠性试验的重要保证。

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