舰船电子设备环境试验低温贮存试验GJB4.4-1983舰船电子设备环境试验低温试验GJB4.3-1983军用电子测试设备通用规范GJB3947A-2009军用计算机通用规范GJB322A-1998军用通信设备通用规范GJB367A－2001军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验GJB150.4A-2009

可靠性环境试验项目确定后，按照什么顺序进行试验，GJB150-1986、GJB150A-2009和GJB4-1983三项标准中均有一定的规定。

舰船装备的环境试验基本上是在实验室进行，实验室试验具有重复性、可再现性。目前，常用的环境试验军用标准有GJB150-1986《军用设备环境试验方法》、GJB150A-2009《军用装备实验室环境试验方法》和GJB4-1983《舰船电子设备环境试验》等。

试验样品应处于不包装、不通电和准备工作状态，并按实船使用状态将试验样品放进试验箱(室)内，然后以每分钟不超过1℃的速率将高低温试验箱（室）的温度降到-40+3℃，保温24小时。

本标准规定了舰船电子设备的高温试验，它是制订舰船电子设备总技术条件或产品标准等技术文件相应部分的基础和选用依据。GJB4.1--83《舰船电子设备环境试验总则》的规定适用于本标准。