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HAST试验箱

HAST试验箱

产品特点:用户可以查看他们希望查看任何数据通过电脑安全便捷的远程访问多层级的敏感数据保护便捷的程序入口、试验设置和产品监控试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输hast测试条件有130℃、85%RH、230KPa大气压,96hour测试时间。
芯片<i style='color:red'>hast测试</i>技术规范

芯片hast测试技术规范

hast测试是通过温度、湿度、大气压力加速条件,评估非密封封装器件在上电状态下,在高温、高压、潮湿环境中的可靠性。它采用了严格的温度,湿度,大气压、电压条件,该条件会加速水分渗透到材料内部与金属导体之间的电化学反应。

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